显而易见,IGBT降低的di/dt几乎对二极管换流开始阶段的损耗没有任何影响,因为二极管电压依然维持在零左右。在反向恢复峰值电流之后,更大杂散功率电感引起的二极管电压升高决定并导致了额外的损耗。小电感和大电感设置的二极管拖尾电流中可再次看到交叉点c。更高的过压使得c点之前的损耗从10.1mJ增至19.6mJ。与IGBT的情况一样,增加的动态过压会导致c点之后的拖尾电流降低,大电感设置的损一体电感器企业耗平衡将优化4.4mJ。总之,第一开关阶段起主导作用,二极管损耗随着电感的增加从24.6mJ提高至29.7mJ,增幅为20%。
表2:对英飞凌IGBT的折衷:在相同杂散电感和软度条件下的关断损耗。
实验结果的总动态损耗
尽管在开通过程中,di/dt与寄生电感的结合可降低IGBT的电压,但在关断过程中,它将增大IGBT的电压过冲。将开通与关断过程进行左右对比,不难看出,在较大寄生电感时开通损耗的 降度远高于关断损耗的增幅。
如果考虑到最新沟槽栅场截止IGBT的关断di/dt本质上受器件动态性能的制约,约为导通di/dt的一半,就可轻松理解这一趋势。
在图5中,对IGBT开通损耗、关断损耗以及二极管换流损耗与三款IGBT的寄生直流母线杂散电感进行了对比。
图5:开关损耗作为杂散电感Ls的函数,电感的增大将降低IGBT的开通损耗(左图);IGBT的关断损耗(右图)和续流二极管关断损耗会随着电感的增大而升高。
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电感器工厂
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