LED显示屏作为一种新的显示器件,近年来得到了广泛的应用。随着技术的不断更新,LED显示屏正朝着全彩化的方向发展。设计了一种LED显示屏控制系统,该系统以ARMCortex-M3内核芯片STM32F103ZET6作为控制中心,以可编程逻辑器件EP1C6完成数据的刷新,通过以太网通信。系统可支持256级灰度全彩LED显示屏的图像、动画的显示,同时能够方便地进行远程控制。
LED显示屏是利用LED点阵模块或像素单元组成的一种现代平面显示屏幕,具有发光效率高、使用寿命长、视角范围大、色彩丰富以及对室内外环境适应能力强等扁平型电感优点。20世纪80年代后期,它在全世界迅速发展起来,并很快成为大屏幕平板显示的代表性主流产品;近年来,随着蓝色LED产品价格的快速下降,全彩色LED显示屏的价格逐步降低,市场需求急剧增长,应用日益普遍。目前的LED显示屏控制系统多采用ARM处理器来完成整个系统的功能,这种控制系统在数据处理速度上存在很大的局限,影响显示效果的连续性。基于此,在分析了STM32微处理器总线结构特点的基础上,提出了STM32+FPGA的控制系统方案,该方案充电感器的功能和用途分了利用STM32微处理器的灵活的储器控制技术和可编程逻辑器件的灵活性,提高了系统数据处理的速度,而且简化了电路结构,方便调试。
1 、系统总体方案设计
系统结构框图如图1所示。
图1 系统结构框图
系统采用新一代的32bitRISC处理器STM32作为主控芯片,通过以太网传输数据,以FLASH作为存储模块,由FPGA完成对LED显示屏的高速扫描刷新。系统工作时,利用上位机编辑显示信息,通过以太网接口将显示信息传输给微处理器,微处理器接收数据信息后写入FLASH存储器。在显示时,微处理器读取FLASH中的数据,通过总线将数据以并行方式发送给FPGA,FPGA处理后将数据传输到LED显示屏显示。
2 、系统硬件设计
本系统选用ST公司新推出的32位微处理器STM32F103ZET6作为主控芯片,STM32F103ZET6使用了先进架构的ARMCortex-M3内核,其灵活的静态存储器控制器使得它能很方便的和功率电感许多存储器和外设连接,同时STM32片上外设丰富,可以简化系统外围电路的设计。
2.1 FLASH存储器电路设计
FLASH采用的是三星公司的K9F1G16U0M,它是一种NAND型FLASH,存储容量为64M16位,工作电压3.3V,系统中STM32F103ZET6与K9F1G16U0M的连接如图2所示。FLASH存储器的IO0~IO7和FMSC数据总线的低8位相连,STM32处理器通过FSMC访问存储器;FLASH存储器的片选信号nCE和FSMC的FSMC_NCE2相连接,这样存储器的地址空间为0x70000000~077FFFFFFFF;FLASH存储器的R/nB连接至STM32处理器的FSMC_NWAIT管脚,处理器将R/nB作为一个中断源使用,因此可以在存储器的等待周期内执行其他的任务。
图2 NANDFLASH与STM32F103ZET6连接图
2.2 以太网接口电路设计
采用以太网接口代替传统的串口,加快了数据传输的速度,同时可以实现远程控制。由于STM32F103ZET6片内没有集成以太网MAC和PHY功能,但其FSMC支持扩展以太网控制芯片,本系统在FSM一体成型电感器C上扩展一片DAVICOM公司的DM9000A芯片对STM32F103ZET6进行以太网扩展,DM9000A与STM32F103ZET6的连接如图3所示。
图3 DM9000A与STM32F103ZET6连接图
STM32F103ZET6通过FSMC访问DM9000A,对于STM32F103ZET6来说,DM9000A就是一个静态存储器外设。DM9000A采用16位模式,数据线SD0~SD15直接与FMSC数据线低16位FSMC_D0~FSMC_D15相连;DM9000A片选信号线nCS连接至FSMC片选信号FSMC_NE4,这样DM9000A端口地址为0x6c000000;DM9000A的中断信号线INT可直接连接至STM32F103ZET6的IO口,在程序中激活处理器IO口的中断复用功能,STM32以中断方式接收网卡数据。
2.3 扫描驱动电路设计1
5 单相无变压器光伏逆变器专用模块flowsol0-bi的贴片电感工厂效率计算 这里我们主要考虑功率半导体的损耗,其他的无源器件,如boost功率电感,输出滤波电感的损耗不计算在内。基于这个电路的相 阿瓦隆一直走开源路线,矿工最关心的芯片频率和电压都可以直接在设置界面进行设置。通过不同的电压和频率组合,不需要修改任何硬件就能达成高频高算力或者低电压高效率的工作方式。 在过去,人类因为接触计算 0 引言当前3G 数据业务迅猛发展,电信运营商维护任务非常繁重。传统人工测试的方式繁琐复杂,同时测试过程所获的信令数据量极其庞大,测试人员无法在现场进行数据的分析与处理。因此利用嵌入式技术自动化地实地
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